Отрывок: U n p J ~ Р и с. 2. Зависимость Vnp ТЯК на основе At- At^ Oj- A t от числа пробоев П с различными значениями площа­ дей перекрытия^обкладок & : 1 -г $ = I мм ;^ 2 - 5 =5 мм2; 3 - S =10 мм2 Зависимости характеризуются двумя участками: возрастающим и участком, где Упр практически не зависит от П, . Можно считать, что возрастающий участок зависимости Unp-Jfa) связан с пробоями по наиболее грубым дефектам, т .е . макрод...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorПиганов М. Н.ru
dc.contributor.authorМинистерство высшего и среднего специального образования РСФСРru
dc.contributor.authorКуйбышевский авиационный институт им. С. П. Королеваru
dc.coverage.spatialдефекты тонкопленочных конденсаторовru
dc.coverage.spatialметодические изданияru
dc.coverage.spatialэлектрическая прочностьru
dc.date.accessioned2022-03-23 10:18:37-
dc.date.available2022-03-23 10:18:37-
dc.date.issued1982ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\476264ru
dc.identifier.citationИсследование влияния электрической тренировки на параметры тонкопленочных конденсаторов : метод. указания к лаб. работе 38. - Текст : электронный / М-во высш. и сред. спец. образования РСФСР, Куйбышев. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; [сост. М. Н. Пиганов]. - Куйбышев, 1982. - 1 файл (380,31 Кб)ru
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Metodicheskie-izdaniya/Issledovanie-vliyaniya-elektricheskoi-trenirovki-na-parametry-tonkoplenochnyh-kondensatorov-96292-
dc.description.abstractИзучаются дефекты тонкопленочных конденсаторов, проводится анализ причин их возникновения; определяется напряжение пробоя для конденсаторов с различными значениями площади перекрытия обкладок.Исследуется также процесс электрической тренировки ,оцениваются электрическая прочность, влияние тренировки на свойства тонкопленочных конденсаторов.Рекомендуется студентам специальности 0705.ru
dc.description.abstractИспользуемые программы Adobe Acrobatru
dc.description.abstractТруды сотрудников КуАИ (электрон. версия)ru
dc.language.isorusru
dc.titleИсследование влияния электрической тренировки на параметры тонкопленочных конденсаторовru
dc.typeTextru
dc.subject.rugasnti47.33.31ru
dc.subject.udc621.382 (075)ru
dc.subject.udc621.382.049.772(075)ru
dc.textpartU n p J ~ Р и с. 2. Зависимость Vnp ТЯК на основе At- At^ Oj- A t от числа пробоев П с различными значениями площа­ дей перекрытия^обкладок & : 1 -г $ = I мм ;^ 2 - 5 =5 мм2; 3 - S =10 мм2 Зависимости характеризуются двумя участками: возрастающим и участком, где Упр практически не зависит от П, . Можно считать, что возрастающий участок зависимости Unp-Jfa) связан с пробоями по наиболее грубым дефектам, т .е . макрод...-
Располагается в коллекциях: Методические издания

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Пиганов М.Н. Исследование влияния электрической 1982.pdf380.31 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.