Отрывок: На рис.З и рис.4 в качестве примера приведены точностные диаграммы соот­ ветственно нестабильного и стабильного процессов напыления тонкоплёночных резисторов. Напыление производилось через биметаллические маски. Очевидно, что совокупность ТГГО, полученных за один цикл напыления, может быть пред­ ставлена мгновенным распределением погрешностей сопротивления резисторов. Совокупность TTTR, полученных за несколько циклов напылен...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorПиганов М. Н.ru
dc.contributor.authorСамарский государственный аэрокосмический университет им. академика С. П. Королеваru
dc.coverage.spatialлабораторные работыru
dc.coverage.spatialмикросборкиru
dc.coverage.spatialпроизводственные погрешностиru
dc.coverage.spatialтонкопленочные резисторыru
dc.coverage.spatialточность технологических процессовru
dc.coverage.spatialстабильность технологических процессовru
dc.coverage.spatialучебные изданияru
dc.date.issued2004ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\438872ru
dc.identifier.citationАнализ качества технологического процесса производства микросборок : [метод. указания к лаб. работе]. - Текст : электронный / Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; сост. М. Н. Пиганов. - Самара : СГАУ, 2004. - 1 файл (397 Кб)ru
dc.description.abstractИспользуемые программы: Adobe Acrobat.ru
dc.description.abstractТруды сотрудников СГАУ (электрон. версия).ru
dc.description.abstractРассмотрены производственные погрешности в процессе изготовления микросборок. Приведены методики оценки точности и стабильности технологических процессов. Даны схемы возникновения производственных погрешностей.Рекомендуются студентам специальности 200800.ru
dc.language.isorusru
dc.publisherСГАУru
dc.relation.isformatofАнализ качества технологического процесса производства микросборок : [метод. указания к лаб. работе]. - Текст : непосредственныйru
dc.titleАнализ качества технологического процесса производства микросборокru
dc.typeTextru
dc.subject.rugasnti47.33.31ru
dc.subject.udc621.382.049.77(075)ru
dc.textpartНа рис.З и рис.4 в качестве примера приведены точностные диаграммы соот­ ветственно нестабильного и стабильного процессов напыления тонкоплёночных резисторов. Напыление производилось через биметаллические маски. Очевидно, что совокупность ТГГО, полученных за один цикл напыления, может быть пред­ ставлена мгновенным распределением погрешностей сопротивления резисторов. Совокупность TTTR, полученных за несколько циклов напылен...-
Располагается в коллекциях: Методические издания

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Пиганов М.Н. Анализ качества 2004.pdf397.48 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.