Отрывок: Однако необходимо отметит'ь, что этот критерий можно применять только в том случае, если ги­ потетическое распределение Р ( х ) полностью известно Заранее из каких-либо теоретических предположений, т. е. когда известен не только вид функции г (х ) , но и все входящие в нее параметры. Д ля этого критерия велика вероятность ошибок в т о р о г о рода. Проверка гипотезы по критерию А. Н. Колмогорова произво­ дится в следующей последовательности: 1) строятся эмпирическая F* (х) и т...
Название : Анализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов
Авторы/Редакторы : Капитонов В. А.
Государственный комитет РСФСР по делам науки и высшей школы
Самарский авиационный институт им. С. П. Королева
Дата публикации : 1991
Библиографическое описание : Анализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов : метод. указания к лаб. работе. - Текст : электронный / Гос. ком. РСФСР по делам науки и высш. шк., Самар. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; [сост. Капитонов Валерий Алексеевич]. - Самара, 1991. - 1 файл (478 Кб)
Аннотация : Рассмотрены основные характеристики статистической совокупности. Приведены основные расчетные формулы для определения параметров качества технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов. Оценивается точность и стабильность технологического процесса. Предназначены для студентов специальности 23.03. Составлены на кафедре «Микроэлектроника и технология радиоэлектронной аппаратуры».
Используемые программы: Adobe Acrobat.
Труды сотрудников САИ (электрон. версия).
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\443391
Ключевые слова: лабораторные работы
биполярные транзисторы
точность
технологические процессы
стабильность
статистические методы
полупроводниковые приборы
параметры качества
учебные издания
Располагается в коллекциях: Методические издания

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Капитонов В.А. Анализ и исследование 1991.pdf478.83 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.