Отрывок: Кроме того, были отмечены области, в которых наблюдалась наиболее сильная неравномерность резистивной пленки. Зта область предлагается для расположения проводников и контактных площадок. АЛЬТШШДШНШ ТЕ&ЮДОГИЧЕСКИЛ ПРОЦЕСС ИЗГОТОВЛЕНИЯ РЕЗИСТИВНЫХ СТРУКТУР С.Г.Шмарин Научный руководитель - доцент Н.Я .Федосеева ...
Название : | Метод корректировки фотошаблонов |
Авторы/Редакторы : | Валиуллин М. Н. Федосеева Н. Я. |
Дата публикации : | 1995 |
Библиографическое описание : | Валиуллин, М. Н. Метод корректировки фотошаблонов / М. Н. Валиуллин ; науч. руководитель Н. Я. Федосеева // Королевские чтения : всерос. студ. науч. конф. : тез. докл., [Самара, 4-5 окт. 1995г.] / Гос. ком. Рос. Федерации по высш. образованию, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; ред. В. Г. Шахов. - Самара : [СГАУ], 1995. - С. 100. |
Другие идентификаторы : | RU\НТБ СГАУ\533868 |
Ключевые слова: | корректировка размеров корректировка фотошаблонов методы корректировки фотошаблоны |
Располагается в коллекциях: | Королевские чтения |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Стр.-100.pdf | 48.8 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.