Отрывок: атомных реализаций при создании изделия А / В —> 0); ® проведение рассмотрения технологических процессов (как совокупно­ сти индивидуальных ФХП) создания электронных изделий в рамках представ­ лений термодинамики необратимых процессов, с акцентом на энтропийные по­ казатели, в частности скорости производства энтропии как в ходе создания, так и при эксплуатации изделий; • введение в рассмотрение понятий информационного потенциала и де­ фицита технологических процессов как мер соответствия уро...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorЕремина И. Н.ru
dc.contributor.authorПиганов М. Н.ru
dc.coverage.spatialпоказатели надежностиru
dc.coverage.spatialинтенсивность отказовru
dc.coverage.spatialинформационная теория измерительных процессовru
dc.coverage.spatialизделия электронной техникиru
dc.coverage.spatialэнтропийный подходru
dc.coverage.spatialфизико-химические процессыru
dc.coverage.spatialаппарат неравновесной динамикиru
dc.creatorЕремина И. Н., Пиганов М. Н.ru
dc.date.issued2007ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\480343ru
dc.identifier.citationЕремина, И. Н. Энтропийный подход в вопросах надежности устройств микро- и наноэлектроники / И. Н. Еремина, М. Н. Пиганов // IX Королевские чтения : Всерос. молодеж. науч. конф. с междунар. участием, посвящ. 100-летию акад. С. П. Королева, 65-летию КуАИ-СГАУ и 50-летию со дня запуска первого искусств. спутника Земли : тез. докл., 1-3 окт. 2007 г. / Федер. агентство по образованию, Правительство Самар. обл., М-во образования и науки Самар. обл., Самар. науч. центр Рос. акад. наук, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева, Гос. науч.-произв. ракет.-косм. центр "ЦСКБ - Прогресс" ; [науч. ред. И. В. Белоконов]. - Самара : Изд-во СГАУ, 2007. - С. 196.ru
dc.language.isorusru
dc.sourceIX Королевские чтения : Всерос. молодеж. науч. конф. с междунар. участием, посвящ. 100-летию акад. С. П. Королева, 65-летию КуАИ-СГАУ и 50-летию со дня запуска первого искусств. спутника Земли : тез. докл., 1-3 окт. 2007 г. - Текст : электронныйru
dc.titleЭнтропийный подход в вопросах надежности устройств микро- и наноэлектроникиru
dc.typeTextru
dc.citation.spage196ru
dc.textpartатомных реализаций при создании изделия А / В —> 0); ® проведение рассмотрения технологических процессов (как совокупно­ сти индивидуальных ФХП) создания электронных изделий в рамках представ­ лений термодинамики необратимых процессов, с акцентом на энтропийные по­ казатели, в частности скорости производства энтропии как в ходе создания, так и при эксплуатации изделий; • введение в рассмотрение понятий информационного потенциала и де­ фицита технологических процессов как мер соответствия уро...-
Располагается в коллекциях: Королевские чтения

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
978-5-7883-0531-8_2007-196.pdf56.44 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.