Отрывок: На рисунке видны резонансные линии минимумов отражения, ширина которых меняется при изменении параметров структуры. Точки, в которых ширина резонансной линии обращается в ноль, соответствуют случаю бесконечной добротности, то есть ССК. Компьютерная оптика и нанофотоника VII Международная конференция и молодёжная школа «Информационные технологии и нанотехнологии» (ИТНТ-2021) 014002 Рисунок 1: (а) Геометрия рассматриваемой дифракционной решётки. (б) Строго рассчитанный спектр отраж...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Быков Д. А. | ru |
dc.contributor.author | Безус Е. А. | ru |
dc.contributor.author | Досколович Л. Л. | ru |
dc.coverage.spatial | трехволновые интерферометры Фабри-Перо | ru |
dc.coverage.spatial | связанные состояния в континууме | ru |
dc.coverage.spatial | резонансные оптические свойства | ru |
dc.coverage.spatial | дифракционные решетки | ru |
dc.coverage.spatial | модель связанных волн | ru |
dc.creator | Быков Д. А., Безус Е. А., Досколович Л. Л. | ru |
dc.date.issued | 2021 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\467037 | ru |
dc.identifier.citation | Быков, Д. А. Связанные состояния в континууме в трехволновом интерферометре Фабри-Перо. - Текст : электронный / Д. А. Быков, Е. А. Безус, Л. Л. Досколович // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2021) : сб. тр. по материалам VII Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 20-24 сент.) : [в 3 т.]. / М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изображений РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника РАН. - 2021. - Т. 1. - С. 014002 | ru |
dc.language.iso | rus | ru |
dc.relation.ispartof | Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2021) : сб. тр. по материалам VII Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 20-24 сент.) : [в 3 т.]. | ru |
dc.source | Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2021). - Т. 1 : Компьютерная оптика и нанофотоника | ru |
dc.title | Связанные состояния в континууме в трехволновом интерферометре Фабри-Перо | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.citation.spage | 014002 | ru |
dc.citation.volume | 1 | ru |
dc.textpart | На рисунке видны резонансные линии минимумов отражения, ширина которых меняется при изменении параметров структуры. Точки, в которых ширина резонансной линии обращается в ноль, соответствуют случаю бесконечной добротности, то есть ССК. Компьютерная оптика и нанофотоника VII Международная конференция и молодёжная школа «Информационные технологии и нанотехнологии» (ИТНТ-2021) 014002 Рисунок 1: (а) Геометрия рассматриваемой дифракционной решётки. (б) Строго рассчитанный спектр отраж... | - |
Располагается в коллекциях: | Информационные технологии и нанотехнологии |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
31paper014002.pdf | 441.42 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.