Отрывок: На рисунке видны резонансные линии минимумов отражения, ширина которых меняется при изменении параметров структуры. Точки, в которых ширина резонансной линии обращается в ноль, соответствуют случаю бесконечной добротности, то есть ССК. Компьютерная оптика и нанофотоника VII Международная конференция и молодёжная школа «Информационные технологии и нанотехнологии» (ИТНТ-2021) 014002 Рисунок 1: (а) Геометрия рассматриваемой дифракционной решётки. (б) Строго рассчитанный спектр отраж...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorБыков Д. А.ru
dc.contributor.authorБезус Е. А.ru
dc.contributor.authorДосколович Л. Л.ru
dc.coverage.spatialтрехволновые интерферометры Фабри-Пероru
dc.coverage.spatialсвязанные состояния в континуумеru
dc.coverage.spatialрезонансные оптические свойстваru
dc.coverage.spatialдифракционные решеткиru
dc.coverage.spatialмодель связанных волнru
dc.creatorБыков Д. А., Безус Е. А., Досколович Л. Л.ru
dc.date.issued2021ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\467037ru
dc.identifier.citationБыков, Д. А. Связанные состояния в континууме в трехволновом интерферометре Фабри-Перо. - Текст : электронный / Д. А. Быков, Е. А. Безус, Л. Л. Досколович // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2021) : сб. тр. по материалам VII Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 20-24 сент.) : [в 3 т.]. / М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изображений РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника РАН. - 2021. - Т. 1. - С. 014002ru
dc.language.isorusru
dc.relation.ispartofИнформационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2021) : сб. тр. по материалам VII Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 20-24 сент.) : [в 3 т.].ru
dc.sourceИнформационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2021). - Т. 1 : Компьютерная оптика и нанофотоникаru
dc.titleСвязанные состояния в континууме в трехволновом интерферометре Фабри-Пероru
dc.typeTextru
dc.citation.spage014002ru
dc.citation.volume1ru
dc.textpartНа рисунке видны резонансные линии минимумов отражения, ширина которых меняется при изменении параметров структуры. Точки, в которых ширина резонансной линии обращается в ноль, соответствуют случаю бесконечной добротности, то есть ССК. Компьютерная оптика и нанофотоника VII Международная конференция и молодёжная школа «Информационные технологии и нанотехнологии» (ИТНТ-2021) 014002 Рисунок 1: (а) Геометрия рассматриваемой дифракционной решётки. (б) Строго рассчитанный спектр отраж...-
Располагается в коллекциях: Информационные технологии и нанотехнологии

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
31paper014002.pdf441.42 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.