Отрывок: Рисунок 3. Зависимость F-меры Ван Ризбергена и достоверности от изменения параметров размера входного изображения для сверточной нейронной сети. На рисунке 3 представлен график зависимости F-меры Ван Ризбергена и достоверности от размера входного изображения. Как видно на графике, принимает наибольшее значение при размерах входного изображения в 84 × 84 и 92 × 92 отчетов. Размер 92 × 92 отчетов был принят ка...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorАгафонова Ю. Д.ru
dc.contributor.authorГайдель А. В.ru
dc.contributor.authorЗельтер П. М.ru
dc.contributor.authorКапишников А. В.ru
dc.coverage.spatialМРТ головного мозгаru
dc.coverage.spatialмагнитно-резонансная томографияru
dc.coverage.spatialкачество изображенийru
dc.coverage.spatialизображения МРТru
dc.coverage.spatialсверточная нейронная сетьru
dc.creatorАгафонова Ю. Д., Гайдель А. В., Зельтер П. М., Капишников А. В.ru
dc.date.accessioned2020-08-12 13:05:35-
dc.date.available2020-08-12 13:05:35-
dc.date.issued2020ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\441474ru
dc.identifier.citationСверточная нейронная сеть для обнаружения патологий на изображениях МРТ головного мозга / Ю. Д. Агафонова, А. В. Гайдель, П. М. Зельтер, А. В. Капишников // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Тек / М-во науки и образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изобр. РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН. - 2020. - Т. 2. - С. 181-188ru
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Svertochnaya-neironnaya-set-dlya-obnaruzheniya-patologii-na-izobrazheniyah-MRT-golovnogo-mozga-85260-
dc.language.isorusru
dc.relation.ispartofИнформационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Текru
dc.sourceИнформационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020). - Т. 2 : Обработка изображений и дистанционное зондирование Землиru
dc.titleСверточная нейронная сеть для обнаружения патологий на изображениях МРТ головного мозгаru
dc.typeTextru
dc.citation.epage188ru
dc.citation.spage181ru
dc.citation.volume2ru
dc.textpartРисунок 3. Зависимость F-меры Ван Ризбергена и достоверности от изменения параметров размера входного изображения для сверточной нейронной сети. На рисунке 3 представлен график зависимости F-меры Ван Ризбергена и достоверности от размера входного изображения. Как видно на графике, принимает наибольшее значение при размерах входного изображения в 84 × 84 и 92 × 92 отчетов. Размер 92 × 92 отчетов был принят ка...-
Располагается в коллекциях: Информационные технологии и нанотехнологии

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
ИТНТ-2020_том 2-181-188.pdf793.09 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.