Репозиторий Самарского университета

Отрывок: При использовании покрытий равнотолщинной топологии со слоями, оптические толщины которых кратны λ/4, возникают осцилляции в области пропускания фильтра. Для создания отрезающих фильтров эти осцилляции нужно уменьшить, чтобы обеспечить равномерность спектральной характеристики зоны пропускания. Значительно улучшить спектральные характеристики интерференционных фильтров можно путем использования покрытий неравнотолщинной топологии со с...

Название :	Проектирование отрезающих длинноволновых фильтров ближнего ИК-диапазона для Рамановской спектроскопии
Авторы/Редакторы :	Шацкая А. А. Черепанов К. В. Артемьев Д. Н.
Дата публикации :	2021
Библиографическое описание :	Шацкая, А. А. Проектирование отрезающих длинноволновых фильтров ближнего ИК-диапазона для Рамановской спектроскопии. - Текст : электронный / А. А. Шацкая, К. В. Черепанов, Д. Н. Артемьев // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2021) : сб. тр. по материалам VII Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 20-24 сент.) : [в 3 т.]. / М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изображений РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника РАН. - 2021. - Т. 1. - С. 012912
Другие идентификаторы :	RU\НТБ СГАУ\467243
Ключевые слова:	тонкие диэлектрические пленки спектральные характеристики моделей рамановская спектроскопия оптические покрытия интерференционные фильтры инфракрасный диапазон напыление
Располагается в коллекциях:	Информационные технологии и нанотехнологии

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.