Отрывок: 3. Результаты и обсуждения На рисунке 1 представлены рентгеновские рефлектограммы трёх образцов пористого кремния и кремниевой подложки. После прохождения критического угла θc полного внешнего отражения (ПВО), интенсивность кривых рентгеновской рефлектометрии начинает резко Компьютерная оптика и нанофотоника VII Международная конференция и молодёжная школа «Информационные технологии и нанотехнологии» (ИТНТ-2021) 011892 снижаться. Зна...
Название : Особенности применения рентгеновской рефлектометрии для определения пористости структур пористого кремния
Авторы/Редакторы : Леньшин А. С.
Пешков Я. А.
Канныкин С. В.
Юраков Ю. А.
Дата публикации : 2021
Библиографическое описание : Особенности применения рентгеновской рефлектометрии для определения пористости структур пористого кремния. - Текст : электронный / А. С. Леньшин, Я. А. Пешков, С. В. Канныкин, Ю. А. Юраков // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2021) : сб. тр. по материалам VII Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 20-24 сент.) : [в 3 т.]. / М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изображений РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника РАН. - 2021. - Т. 1. - С. 011892
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\467189
Ключевые слова: пористый кремний
рентгеновская рефлектометрия
расчет пористости
наноструктуры
нанофотоника
Располагается в коллекциях: Информационные технологии и нанотехнологии

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
75paper011892.pdf432.4 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.