Репозиторий Самарского университета

Отрывок: В данном случае в качестве материала металлического слоя и подложки использовалось золото (показатель преломления nAu=0.18836 + 3.4034i), а в качестве материала диэлектрического слоя — кварц (n=1.46). При указанных параметрах толщина верхней золотой пленки МДМ- структуры равняется 29.8 нм, а толщина слоя диэлектрика – 168 нм. Из рис. 1 (а) видно, что рассчитанная передаточная функция в окрестности нулевой пространственной частоты хоро...

Название :	Оптический дифференциатор на основе трехслойной металлодиэлектрической структуры
Авторы/Редакторы :	Кашапов А. И. Досколович Л. Л. Быков Д. А. Безус Е. А.
Дата публикации :	2021
Библиографическое описание :	Оптический дифференциатор на основе трехслойной металлодиэлектрической структуры. - Текст : электронный / А. И. Кашапов, Л. Л. Досколович, Д. А. Быков, Е. А. Безус // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2021) : сб. тр. по материалам VII Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 20-24 сент.) : [в 3 т.]. / М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изображений РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника РАН. - 2021. - Т. 1. - С. 011932
Другие идентификаторы :	RU\НТБ СГАУ\467007
Ключевые слова:	оптическое дифференцирование оптические дифференциаторы резонансные структуры металлодиэлектрическая система слоев МДМ-структуры коэффициент отражения
Располагается в коллекциях:	Информационные технологии и нанотехнологии

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.