Отрывок: а) б) Рисунок 2. Отражение (синие линии), пропускание (зелёные линии) и потери (черные линии) для брэгговских решёток нулевого (а) и первого (б) порядков: сплошная линия – решётки с однослойной конфигурацией ступеньки с аспектным отношением 3, штрихпунктирная линия – плоская волна в слоистой структуре, пунктирная линия – решётка с однослойной ступенькой при аспектном отношении 8 (a) и решётка с двуслойной конфигурацией ступеньки (б); кр...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorКадомина, Е.А.-
dc.contributor.authorБезус, Е.А.-
dc.contributor.authorДосколович, Л.Л.-
dc.contributor.authorKadomina, E.A.-
dc.contributor.authorBezus, E.A.-
dc.contributor.authorDoskolovich, L.L.-
dc.date.accessioned2018-05-22 09:28:59-
dc.date.available2018-05-22 09:28:59-
dc.date.issued2018-
dc.identifierDspace\SGAU\20180518\69596ru
dc.identifier.citationКадомина Е.А. Брэгговские решетки с малыми потерями на паразитное рассеяние для поверхностных плазмон-поляритонов / Е.А. Кадомина, Е.А. Безус, Л.Л. Досколович // Сборник трудов IV международной конференции и молодежной школы «Информационные технологии и нанотехнологии» (ИТНТ-2018) - Самара: Новая техника, 2018. - С.287-292.ru
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Breggovskie-reshetki-s-malymi-poteryami-na-parazitnoe-rasseyanie-dlya-poverhnostnyh-plazmonpolyaritonov-69596-
dc.description.abstractВ работе на основе численного моделирования методом фурье-мод исследовались эффективность и потери на рассеяние и поглощение диэлектрических брэгговских решеток для поверхностных плазмонных поляритонов (ППП). Показано, что основной причиной снижения эффективности брэгговских рефлекторов является паразитное рассеяние ППП на ступеньках решетки. В качестве эффективного способа уменьшения рассеяния предлагается увеличение периода решётки при постоянном аспектном отношении, что позволяет увеличить коэффициент отражения более чем на 30%. Показано также, что использование двухслойной геометрии ступенек решётки позволяет увеличить отражательную способность ещё на 3,5%. In this work, diffraction efficiency and scattering and absorption losses in dielectric Bragg gratings for surface plasmon polaritons (SPP) are numerically studied using the Fourier modal method. We demonstrate that the main reason of low efficiency of such Bragg reflectors is the parasitic scattering of SPP at the grating ridges. As an efficient technique for decreasing the scattering losses, an increase in the grating period at fixed aspect ratio is proposed, which leads to a 30% increase in the reflector efficiency. We also show that the utilization of two-layer grating ridges makes it possible to increase the reflectivity by another 3.5%ru
dc.description.sponsorshipРабота выполнена при поддержке Федерального агентства научных организаций (соглашение No 007-ГЗ/Ч3363/26) и грантов РФФИ 17-47-630323 и 16-29-11683.ru
dc.language.isorusru
dc.publisherНовая техникаru
dc.subjectsurface plasmon polaritonru
dc.subjectBragg gratingru
dc.subjectscattering suppressionru
dc.titleБрэгговские решетки с малыми потерями на паразитное рассеяние для поверхностных плазмон-поляритоновru
dc.title.alternativeLow-scattering Bragg gratings for surface plasmon polaritonsru
dc.typeArticleru
dc.textpartа) б) Рисунок 2. Отражение (синие линии), пропускание (зелёные линии) и потери (черные линии) для брэгговских решёток нулевого (а) и первого (б) порядков: сплошная линия – решётки с однослойной конфигурацией ступеньки с аспектным отношением 3, штрихпунктирная линия – плоская волна в слоистой структуре, пунктирная линия – решётка с однослойной ступенькой при аспектном отношении 8 (a) и решётка с двуслойной конфигурацией ступеньки (б); кр...-
Располагается в коллекциях: Информационные технологии и нанотехнологии

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
paper_42.pdfОсновная статья225.03 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.