Отрывок: Для проведения экспериментов на основе предложенной структуры нейронной сети для подсчета ошибки и функции потерь была использована библиотека Keras. В качестве критерия оптимизации использовалась бинарная перекрестная энтропия. Под ошибкой здесь понималась разница между желаемой и действительной вероятностью принадлежности к классу. Если представить черно-белое изображение в виде одномерного массива: y= (y1, y2…yn) (2) где значенияyi лежат в отрезке [0;1]. Тогда фо...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Колобов И. Н. | ru |
dc.contributor.author | Коробейников А. В. | ru |
dc.contributor.author | Ложкин А. Г. | ru |
dc.coverage.spatial | микросхемы | ru |
dc.coverage.spatial | транзисторы | ru |
dc.coverage.spatial | сегментация цифровых изображений | ru |
dc.coverage.spatial | сверточные нейронные сети | ru |
dc.creator | Колобов И. Н., Коробейников А. В., Ложкин А. Г. | ru |
dc.date.accessioned | 2020-08-12 13:06:21 | - |
dc.date.available | 2020-08-12 13:06:21 | - |
dc.date.issued | 2020 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\441703 | ru |
dc.identifier.citation | Колобов, И. Н. Анализ изображений микросхем на основе свёрточной нейронной сети / И. Н. Колобов, А. В. Коробейников, А. Г. Ложкин // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Тек / М-во науки и образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изобр. РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН. - 2020. - Т. 2. - С. 561-564 | ru |
dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Analiz-izobrazhenii-mikroshem-na-osnove-svertochnoi-neironnoi-seti-85311 | - |
dc.language.iso | rus | ru |
dc.relation.ispartof | Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Тек | ru |
dc.source | Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020). - Т. 2 : Обработка изображений и дистанционное зондирование Земли | ru |
dc.title | Анализ изображений микросхем на основе свёрточной нейронной сети | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.citation.epage | 564 | ru |
dc.citation.spage | 561 | ru |
dc.citation.volume | 2 | ru |
dc.textpart | Для проведения экспериментов на основе предложенной структуры нейронной сети для подсчета ошибки и функции потерь была использована библиотека Keras. В качестве критерия оптимизации использовалась бинарная перекрестная энтропия. Под ошибкой здесь понималась разница между желаемой и действительной вероятностью принадлежности к классу. Если представить черно-белое изображение в виде одномерного массива: y= (y1, y2…yn) (2) где значенияyi лежат в отрезке [0;1]. Тогда фо... | - |
Располагается в коллекциях: | Информационные технологии и нанотехнологии |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
ИТНТ-2020_том 2-561-564.pdf | 596.5 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.