Отрывок: 1-3). В качестве информативных параметров были выбраны температурный коэффициент КТ и дифференциальное сопротивление Rg стабилитрона. Рисунок 1 – Поле корреляции при Rg=65 и КТ=1,5 139 Рисунок 2 – Поле корреляции при Rg=80 и КТ=1,6 Рисунок 3 – Поле корреляции при Rg=100 и КТ=1,7 Предложенная методика показала высокую эффективность отбраковки. УДК 621.316 РЕЗУЛЬТАТЫ ИСПЫТАНИЙ Т...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorЕранцева, Е.С.-
dc.date.accessioned2020-08-31 12:44:51-
dc.date.available2020-08-31 12:44:51-
dc.date.issued2020-04-
dc.identifierDspace\SGAU\20200827\85436ru
dc.identifier.citationЕранцева, Е.С. Выбор информативных параметров для прогнозирования надежности полупроводниковых приборов / Е.С. Еранцева // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций: материалы Всероссийской научно-технической конференции (г. Самара, 21-23 апреля 2020 г.) / Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева, под. ред. А. И. Данилина - Самара : ООО «Вектор», 2020. – С. 138-139.ru
dc.identifier.isbn978-5-6043616-3-4-
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Vybor-informativnyh-parametrov-dlya-prognozirovaniya-nadezhnosti-poluprovodnikovyh-priborov-85436-
dc.language.isorusru
dc.publisherООО «Вектор»ru
dc.subjectНадежностьru
dc.subjectПолупроводниковый приборru
dc.titleВыбор информативных параметров для прогнозирования надежности полупроводниковых приборовru
dc.typeThesisru
dc.textpart1-3). В качестве информативных параметров были выбраны температурный коэффициент КТ и дифференциальное сопротивление Rg стабилитрона. Рисунок 1 – Поле корреляции при Rg=65 и КТ=1,5 139 Рисунок 2 – Поле корреляции при Rg=80 и КТ=1,6 Рисунок 3 – Поле корреляции при Rg=100 и КТ=1,7 Предложенная методика показала высокую эффективность отбраковки. УДК 621.316 РЕЗУЛЬТАТЫ ИСПЫТАНИЙ Т...-
dc.classindex.udc621.382-
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
138-139.pdfВыбор информативных параметров для прогнозирования надежности полупроводниковых приборов267.06 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.