Отрывок: ..70 В, укладываются в нормы предусмотренные действующим ТУ на аноды конденсаторов из порошка тантала. В анодах из ТДК, изготовленных на основе протравленного в ортофосфорной кислоте порошка А120 3 удельная емкость может быть дополнительно увеличена на 25...30 %. Тангенс угла диэлектрических потерь во всех случаях был в 2-3 раза ниже, чем в аналогичных анодах их порошка тантала. ИСПОЛЬЗОВАНИЕ И Н ТЕРФ ЕРО М ЕТРИ Ч ЕСКИ Х ДАТЧИКОВ В ГИДРОАКУСТ И ЧЕСК И Х АНТЕННА...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorДемаков Ю. П.ru
dc.contributor.authorПенякин Ю. М.ru
dc.coverage.spatialпорошкиru
dc.coverage.spatialостаточное давлениеru
dc.coverage.spatialоксидные конденсаторыru
dc.coverage.spatialнормыru
dc.coverage.spatialплотностиru
dc.coverage.spatialпленкиru
dc.coverage.spatialанодыru
dc.coverage.spatialвакуумные печиru
dc.coverage.spatialгазофазные осажденияru
dc.coverage.spatialдиэлектрические потериru
dc.coverage.spatialдобавкиru
dc.coverage.spatialдавление прессованияru
dc.coverage.spatialмасса навесокru
dc.coverage.spatialметоды спектрального анализаru
dc.coverage.spatialзерноru
dc.coverage.spatialК52-1ru
dc.coverage.spatialконденсаторыru
dc.coverage.spatialэлектрокорундru
dc.coverage.spatialтоки утечкиru
dc.coverage.spatialудельная емкостьru
dc.coverage.spatialфазыru
dc.coverage.spatialрежимы спеканияru
dc.coverage.spatialрентгеноструктурный анализru
dc.coverage.spatialрабочее напряжениеru
dc.coverage.spatialприсадкиru
dc.coverage.spatialпримесиru
dc.coverage.spatialспеканиеru
dc.coverage.spatialТДКru
dc.coverage.spatialтангенс углаru
dc.coverage.spatialтанталru
dc.coverage.spatialтанталовые конденсаторыru
dc.coverage.spatialтантало-диэлектрические композицииru
dc.creatorДемаков Ю. П., Пенякин Ю. М.ru
dc.date.accessioned2021-10-26 14:20:52-
dc.date.available2021-10-26 14:20:52-
dc.date.issued2004ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\468257ru
dc.identifier.citationДемаков, Ю. П. Влияние режимов спекания анодов оксидных конденсаторов из порошков тантало-диэлектрических композиций (ТДК) на величину их тока утечки. - Текст : эле / Ю. П. Демаков, Ю. М. Пенякин // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; [под ред. И. Г. Мироненко, М. Н. Пиганова]. - 2004. - С. 33-34ru
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Vliyanie-rezhimov-spekaniya-anodov-oksidnyh-kondensatorov-iz-poroshkov-tantalodielektricheskih-kompozicii-TDK-na-velichinu-ih-toka-utechki-92563-
dc.language.isorusru
dc.sourceАктуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронныйru
dc.titleВлияние режимов спекания анодов оксидных конденсаторов из порошков тантало-диэлектрических композиций (ТДК) на величину их тока утечкиru
dc.typeTextru
dc.citation.epage34ru
dc.citation.spage33ru
dc.textpart..70 В, укладываются в нормы предусмотренные действующим ТУ на аноды конденсаторов из порошка тантала. В анодах из ТДК, изготовленных на основе протравленного в ортофосфорной кислоте порошка А120 3 удельная емкость может быть дополнительно увеличена на 25...30 %. Тангенс угла диэлектрических потерь во всех случаях был в 2-3 раза ниже, чем в аналогичных анодах их порошка тантала. ИСПОЛЬЗОВАНИЕ И Н ТЕРФ ЕРО М ЕТРИ Ч ЕСКИ Х ДАТЧИКОВ В ГИДРОАКУСТ И ЧЕСК И Х АНТЕННА...-
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Стр.-33-34.pdf108.8 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.