Отрывок:
Название : | Прогнозирование надежности полупроводниковых микросхем |
Авторы/Редакторы : | Бозриков В. С. |
Дата публикации : | 2013 |
Библиографическое описание : | Бозриков, В. С. Прогнозирование надежности полупроводниковых микросхем / В. С. Бозриков // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 21-23 мая 2013 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; под ред. М. Н. Пиганова. - Самара, 2013. - С. 53-54. |
ISBN : | 978-5-7883-0980-4 |
Другие идентификаторы : | Dspace\SGAU\20170323\63133 |
Ключевые слова: | число ошибочных решений полупроводниковые микросхемы теории распознавания образов метод потенциальных функций индивидуальное прогнозирование |
Располагается в коллекциях: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
53-54.pdf | Основная статья | 856.02 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.