Отрывок:
Название : Прогнозирование надежности полупроводниковых микросхем
Авторы/Редакторы : Бозриков В. С.
Дата публикации : 2013
Библиографическое описание : Бозриков, В. С. Прогнозирование надежности полупроводниковых микросхем / В. С. Бозриков // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 21-23 мая 2013 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; под ред. М. Н. Пиганова. - Самара, 2013. - С. 53-54.
ISBN : 978-5-7883-0980-4
Другие идентификаторы : Dspace\SGAU\20170323\63133
Ключевые слова: число ошибочных решений
полупроводниковые микросхемы
теории распознавания образов
метод потенциальных функций
индивидуальное прогнозирование
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
53-54.pdfОсновная статья856.02 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.