Отрывок:
Название : Обзор методов определения микронеровностей поверхности
Авторы/Редакторы : Лефаров Р. Ю.
Данилин С. А.
Дата публикации : 2018
Библиографическое описание : Лефаров, Р. Ю. Обзор методов определения микронеровностей поверхности / Р. Ю. Лефаров, С. А. Данилин // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всероc. науч.-техн. конф. (г. Самара, 15-17 мая 2018 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. А. И. Данилина. - 2018. - С. 88-90. - ISBN = 978-5-473-01191-3
ISBN : 978-5-473-01191-3
Другие идентификаторы : Dspace\SGAU\20180602\69904
Ключевые слова: оптический дистанционный контроль
микронеровности поверхности
метод зеркальной составляющей
интерферометрический метод
волнистость поверхности
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
88-90.pdfОбзор методов определения микронеровностей поверхности345.2 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать полное описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.