Отрывок: импульсной ИИ цифройн^микросбове* £2 также <рункщюнальн|Щ |рлов первого коЯСТрукдаВйОГй уровня К&УХ содержащих',, ушменты одноступенчатой я двухступенчатой- логики, посредством .вдВссщи&каций. ^ём ентной б а з^ _ ш ’пШйателям PC и спедиальиШ-подготовки ОЙЫ|Ш^ образцов. Ш ш щ Щщ)йан на <щектШн<|$| сборке опытных абрааМф асинхронных комбинир...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Давыдов Н. Н. | ru |
dc.coverage.spatial | облучения | ru |
dc.coverage.spatial | оптические волноводы | ru |
dc.coverage.spatial | полупроводниковые ИС | ru |
dc.coverage.spatial | подложки | ru |
dc.coverage.spatial | погрешности измерений | ru |
dc.coverage.spatial | БИС | ru |
dc.coverage.spatial | бистабильные измерительные схемы | ru |
dc.coverage.spatial | бистабильные структуры | ru |
dc.coverage.spatial | алгоритмы отбора | ru |
dc.coverage.spatial | контроль изделий | ru |
dc.coverage.spatial | изделия электронной техники (ИЭТ) | ru |
dc.coverage.spatial | изотопные источники излучения | ru |
dc.coverage.spatial | импульсы ИИ | ru |
dc.coverage.spatial | испытания | ru |
dc.coverage.spatial | метод симметрирования ОВ | ru |
dc.coverage.spatial | методы асинхронного логического моделирования | ru |
dc.coverage.spatial | математические модели процессов контроля | ru |
dc.coverage.spatial | фоторазрушения макроструктуры стекла | ru |
dc.coverage.spatial | РЭУ | ru |
dc.coverage.spatial | процессы обработки материалов | ru |
dc.coverage.spatial | радиационно-лазерные комплексы | ru |
dc.coverage.spatial | радиационно-лазерные системы | ru |
dc.coverage.spatial | радиационные испытания | ru |
dc.coverage.spatial | производственные процессы | ru |
dc.coverage.spatial | технологические процессы селективной сборки | ru |
dc.creator | Давыдов Н. Н. | ru |
dc.date.accessioned | 2021-10-26 14:20:59 | - |
dc.date.available | 2021-10-26 14:20:59 | - |
dc.date.issued | 2004 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\469380 | ru |
dc.identifier.citation | Давыдов, Н. Н. Научные основы совершенствования радиационно-лазерных cистем испытания, обработки и контроля изделий электронного производства. - Текст : электронный / Н. Н. Давыдов // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; [под ред. И. Г. Мироненко, М. Н. Пиганова]. - 2004. - С. 45-52 | ru |
dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Nauchnye-osnovy-sovershenstvovaniya-radiacionnolazernyh-cistem-ispytaniya-obrabotki-i-kontrolya-izdelii-elektronnogo-proizvodstva-92572 | - |
dc.language.iso | rus | ru |
dc.source | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный | ru |
dc.title | Научные основы совершенствования радиационно-лазерных cистем испытания, обработки и контроля изделий электронного производства | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.citation.epage | 52 | ru |
dc.citation.spage | 45 | ru |
dc.textpart | импульсной ИИ цифройн^микросбове* £2 также <рункщюнальн|Щ |рлов первого коЯСТрукдаВйОГй уровня К&УХ содержащих',, ушменты одноступенчатой я двухступенчатой- логики, посредством .вдВссщи&каций. ^ём ентной б а з^ _ ш ’пШйателям PC и спедиальиШ-подготовки ОЙЫ|Ш^ образцов. Ш ш щ Щщ)йан на <щектШн<|$| сборке опытных абрааМф асинхронных комбинир... | - |
Располагается в коллекциях: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Стр.-45-52.pdf | 444.78 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.