Отрывок:
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorРожков А. А.ru
dc.coverage.spatialпомехозащищенностьru
dc.coverage.spatialполупроводниковые микросхемыru
dc.coverage.spatialдиффузия материала проводникаru
dc.coverage.spatialмодели отказовru
dc.coverage.spatialинтегральные микросхемыru
dc.coverage.spatialкороткое замыканиеru
dc.creatorРожков А. А.ru
dc.date.issued2017ru
dc.identifierDspace\SGAU\20180201\67152ru
dc.identifier.citationРожков, А. А. Модели отказов в интегральных микросхемах / А. А. Рожков // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 16-18 мая 2017 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. А. И. Данилина. - Самара : ООО "Офорт", 2017. - С. 115-116.ru
dc.identifier.isbn978-5-473-01143-2ru
dc.language.isorusru
dc.sourceАктуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 16-18 мая 2017 г.)ru
dc.titleМодели отказов в интегральных микросхемахru
dc.typeTextru
dc.citation.epage116ru
dc.citation.spage115ru
dc.subject.udc621.382ru
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
115-116.pdfМодели отказов в интегральных микросхемах436.22 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.