Отрывок: Решением этих задач является изучение используемых электрофизических эффектов на микроскопическом уровне, определяющем всё многообразие форм существования этого эффекта, одну из разновидностей которого предлагается использовать для электрофизического диагностирования приборов. Обнаружена корреляция параметров динамической электромагнитной неустойчивости в биполярном транзист...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Чернобровин Н. Г. | ru |
dc.coverage.spatial | биполярные структуры | ru |
dc.coverage.spatial | динамическая электромагнитная неустойчивость | ru |
dc.coverage.spatial | критерии оценки качества | ru |
dc.coverage.spatial | полупроводниковые приборы | ru |
dc.coverage.spatial | транзисторы | ru |
dc.coverage.spatial | физико-математические модели | ru |
dc.creator | Чернобровин Н. Г. | ru |
dc.date.accessioned | 2024-09-03 11:19:43 | - |
dc.date.available | 2024-09-03 11:19:43 | - |
dc.date.issued | 2009 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\559377 | ru |
dc.identifier.citation | Чернобровин, Н. Г. Исследование механизма неустойчивости в биполярных структурах / Н. Г. Чернобровин // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. 12-14 мая 2009 г. / М-во образования и науки Рос. Федерации, Федер. агентство по образованию, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; под ред. М. Н. Пиганова. - Самара : Изд-во СГАУ, 2009. - [Ч. 1]. - С. 164-165. | ru |
dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Issledovanie-mehanizma-neustoichivosti-v-bipolyarnyh-strukturah-110724 | - |
dc.language.iso | rus | ru |
dc.relation.ispartof | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. 12-14 мая 2009 г. - Текст : электронный | ru |
dc.source | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций. - [Ч. 1] | ru |
dc.title | Исследование механизма неустойчивости в биполярных структурах | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.citation.epage | 165 | ru |
dc.citation.spage | 164 | ru |
dc.textpart | Решением этих задач является изучение используемых электрофизических эффектов на микроскопическом уровне, определяющем всё многообразие форм существования этого эффекта, одну из разновидностей которого предлагается использовать для электрофизического диагностирования приборов. Обнаружена корреляция параметров динамической электромагнитной неустойчивости в биполярном транзист... | - |
Располагается в коллекциях: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
978-5-7883-0672-8_2009-164-165.pdf | 95.06 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.