Просмотр собрания по группе - Тема виды дефектов
Результаты 1 по 2 из 2
Год издания | Название | Автор(ы) | Экспорт |
---|---|---|---|
2022 | Диагностический контроль интегральных микросхем | Ефимов А. А. | |
2012 | Управление состоянием конструкций из композиционных материалов | Шкода А. С.; Коптев А. Н.; Тиц С. Н. |