Просмотр собрания по группе - Авторы Пиганов М. Н.

Перейти к: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я

или введите несколько первых букв:  
Результаты 59 по 78 из 113 < назад    дальше >
Год издания Название Автор(ы) Экспорт
2004Математическое моделирование взаимодействия высокочастотного факельного разряда с толстой резистивной пленкойПиганов М. Н.; Столбиков А. В.
2005Методика диагностического контроля микросхем серии 286Баталова А. М.; Бекренев С. Н.; Пиганов М. Н.
2005Методика и средства ДНК бескорпусных транзисторовПиганов М. Н.
2018Методика оценки погрешности электрических параметров комплексов пленочных пассивных элементов микросхемМелешенко Д. Ю.; Пиганов М. Н.; Министерство образования и науки Российской Федерации; Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет); Институт информатики; математики и электроники
2005Методика экспертной оценки при анализе качества радиоэлектронных средствБаталова А. М.; Карпов О. В.; Столбиков А. В.; Пиганов М. Н.
2017Микроконтроллерное устройство встроенного контроля жидкостных систем автомобиляАндреев Е. А.; Малыгин Н. А.; Гречишников В. М.; Пияков И. В.; Пиганов М. Н.; Министерство образования и науки России; Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
1995Микросборка согласованного усилителяСмолькин О. В.; Еремин В. Е.; Пиганов М. Н.
2018Модели оценки сопротивления пленочных контактовГригорьева Е. Ю.; Пиганов М. Н.; Министерство образования и науки Российской Федерации; Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет); Институт информатики; математики и электроники
2005Моделирование адсорбционных процессов на реальных поверхностях методом вероятностного клеточного автоматаАгафонов А. Н.; Пиганов М. Н.
2012Моделирование вольтамперной характеристики туннельного диодаПиганов М. Н.; Дмитриев В. Д.
2004Некоторые направления повышения надежности элементной базы и аппаратуры космических РЭСТюлевин С. В.; Пиганов М. Н.; Горчаков Е. Г.
2007Особенности САПР микросборок с нерегулярной структуройПиганов М. Н.
2007Особенности технологического процесса изготовления толстопленочных микроплат СВЧСтолбиков А. В.; Пиганов М. Н.
2018Повышение достоверности автоматизированной отбраковки мощных транзисторовЧернобровин Н. Г.; Пиганов М. Н.
2004Повышение качества микросборок для бортовой аппаратурыПиганов М. Н.
2004Повышение стабильности факельно—дугового разряда при обработке микросборокПиганов М. Н.; Столбиков А. В.; Баталова А. М.
2013Подсистема автоматизированного проектирования печатных электронных узлов бортовой аппаратурыПиганов М. Н.
2014Построение причинно-следственных диаграмм качества электронных средствТюлевин С. В.; Пиганов М. Н.; Министерство образования и науки Российской Федерации; Самарский государственный аэрокосмический университет им. С. П. Королева (национальный исследовательский университет) (СГАУ)
2013Принципы проведения этапа исследовательских наземных испытаний космической аппаратуры с длительным сроком активного функционированияТюлевин С. В.; Наседкин А. В.; Пиганов М. Н.
2007Проблемы построения ИИС контроля качества калибровки манипуляторов универсальных промышленных роботовПиганов М. Н.